太陽能光伏發電(diàn)是未來具有廣泛應用前景的新能源，近幾年的研究發現，晶矽體(tǐ)光伏組件在戶外(wài)經過一(yī)段時間的運行後會出現輸出功率降低，導緻組件發電(diàn)效率和電(diàn)站運行效率降低。主要是因爲存在于光伏組件中(zhōng)的電(diàn)路與接地金屬邊框之間形成的高電(diàn)壓，會造成光伏組件性能的持續衰減，業内稱之爲電(diàn)勢差誘導衰減，即PID效應。一(yī)旦發生(shēng)PID效應，會大(dà)大(dà)影響電(diàn)站的運營及投資(zī)收益，因而PID成爲當前光伏投資(zī)商(shāng)及業内普通關注的熱門話(huà)題。
      目前已知(zhī)的PID産生(shēng)機理已爲業界所熟悉，普遍認爲從電(diàn)池到封裝材料，再經過玻璃，鋁邊框，與大(dà)地之間形成的漏電(diàn)流通道時PID形成的主因。目前對PID解決方案的讨論和研究也集中(zhōng)在電(diàn)池、封裝材料上，抗PID的EVA已經成爲業界所向。但從漏電(diàn)流的通道來分(fēn)析，邊框對地之間的導電(diàn)性也是漏電(diàn)流的必經通道，從這個意義上說，如果能切斷者一(yī)通道，或許也是解決或減緩PID效應的有效方法。
      爲了驗證這一(yī)思路的可能性，友科太陽能與海潤光伏利用Xcompo絕緣複合材料太陽能邊框與鋁合金邊框制作了2片實驗組件，進行對比性PID測試。其中(zhōng)一(yī)片是Xcompo邊框組件，另外(wài)一(yī)片是鋁合金邊框組件，電(diàn)池片均采用非抗PID電(diàn)池片。

測試條件：
85℃溫度，85%濕度，1000V負電(diàn)壓，96h測試時間

接地方式：
鋁合金正常接地；
Xcompo由于絕緣，邊框不接地，固定組件的金屬支架部分(fēn)接地。

外(wài)觀測試&絕緣耐壓測試
在PID測試前後外(wài)觀均無明顯變化，滿足要求；
在PID測試前後絕緣耐壓測試均通過，＞3000MΩ.㎡

最大(dà)功率測試：


EL測試

     以上測試來看，Xcompo邊框因爲絕緣優異，實際加載在邊框内組件上的電(diàn)勢差估計遠小(xiǎo)于1000V，這就造成了測試結果的巨大(dà)差異。同樣的測試條件下(xià)，鋁合金邊框組件的功率衰減爲33%，Xcompo邊框組件的功率衰減爲2.02%

     由此可見，組件從内部電(diàn)路到對地的漏電(diàn)流通道對PID效應的影響是很大(dà)的。加強PID通道的絕緣性減少PID效應不僅要提高封裝材料的絕緣性，整個通道對地的絕緣性都會對漏電(diàn)流産生(shēng)影響。因此，非金屬絕緣邊框的應用，應該是幫助組件減少PID效應的主要方法之一(yī)，對于安全、高可靠性組件的開(kāi)發有相當重要的意義。
     長期來講，由于光伏發電(diàn)成本下(xià)降的需要，BOS成本需要不斷降低，光伏電(diàn)站系統電(diàn)壓正在朝1500V發展，權威測試機構已經在起草相關技術及測試标準，那麽，對封裝材料的絕緣性将會提出更加嚴格的要求，對于抗PID的解決方案，一(yī)定是組件内電(diàn)池、EVA、背闆、玻璃及邊框的絕緣等級提高組合拳。并且，當下(xià)爲了解決光伏電(diàn)站土地稀缺，西部電(diàn)站輸電(diàn)難的問題，在沿海灘塗、海上島嶼、湖泊、池塘、水庫、化工(gōng)廠屋頂、污水處理廠等惡劣的環境下(xià)建設電(diàn)站将成爲趨勢。爲此，如何确保光伏組件在惡劣環境中(zhōng)安全、穩定、可靠的發電(diàn)，成爲業内共同需要解決的問題，耐腐蝕、絕緣、高強度成爲組件必須具備的特性，非金屬絕緣邊框Xcompo給組件的未來發展提供了有力的保障。